發(fā)布時(shí)間:2020-05-22 點(diǎn)擊次數: 次
電子萬(wàn)能試驗機夾具的現狀與發(fā)展。...
電子萬(wàn)能試驗機夾具的現狀與發(fā)展趨勢
1)隨著(zhù)汽車(chē)工業(yè),航空工業(yè)等的飛速發(fā)展,對整個(gè)產(chǎn)品或產(chǎn)品中的完整組件進(jìn)行全面檢查的必要性越來(lái)越高,因此結構測試變得越來(lái)越重要。 結果,測試測試已經(jīng)從原始的簡(jiǎn)單樣本演變?yōu)槌善泛桶氤善方Y構測試。 這就要求將相應的夾具從用于標準樣品測試的夾具發(fā)展到用于成品檢查的夾具。
2)燈具的使用正朝著(zhù)高效率和低勞動(dòng)強度的方向發(fā)展。 在過(guò)去,夾具通常是機械鎖定的,這很費時(shí),費力,費力且效率低。 隨著(zhù)工作環(huán)境的改善和大規模測試(對生產(chǎn)線(xiàn)的隨機檢查)的需求,夾具的夾緊方法已從原來(lái)的機械夾緊發(fā)展到氣動(dòng)夾緊和液壓夾緊。...
3)全自動(dòng)夾具:從樣品量的測量到夾緊,再到測試開(kāi)始,測試報告可以完全自動(dòng)完成,無(wú)需人工干預。 這種夾具非常昂貴,并且僅適用于測試大量相同的樣品或成品...
4)環(huán)境測試(高溫和低溫測試)的增加增加了高溫和低溫下使用的燈具數量。環(huán)境測試(高溫箱和低溫箱)的增加使得設計燈具更加困難。我們知道,高溫拉伸試驗的國家標準已有規定:圓形試樣的螺紋和平板試樣的孔。因為連接是固定的,所以固定裝置的設計相對簡(jiǎn)單。但是,高溫和低溫測試是不同的。它通常在高溫和低溫箱中進(jìn)行測試,并且其樣品通常具有較短的標距(通常是常溫樣品)。這樣,固定裝置必須安裝在高溫和低溫箱中。高溫和低溫測試通常受測試機的沖程(安裝標準夾具時(shí)測試機的沖程)的限制,這要求夾具的尺寸要小,滿(mǎn)足測試力并要耐久。高溫和低溫通常是困難的。...
5)增加了連續測試夾具。 過(guò)去,通常對樣品進(jìn)行測試以進(jìn)行測試,并且分別對樣品進(jìn)行拉伸和壓縮(即,使用不同的夾具進(jìn)行拉伸和壓縮),但是現在越來(lái)越多的成品被測試,并且樣品 在同一測試中,它必須被拉伸,壓縮和高效。 只能使用相同的夾具拉伸和壓縮...
6)增加了用于特殊行業(yè)的測試夾具。 隨著(zhù)科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,一些新興行業(yè)對測試夾具提出了新的要求,例如要求夾具結構小,無(wú)磁性,耐腐蝕(在溶液中測試)等。 由于測試機所用夾具的特殊性以及新材料的不斷出現,夾具設計一直處于被動(dòng)狀態(tài)。 我們每天都會(huì )遇到新材料,因此需要設計新的燈具。 我們只能總結過(guò)去的成功經(jīng)驗,以適應新的發(fā)展趨勢。...
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